真空探针台主要应用于各类传感器、半导体、光电、集成电路以及封装件的测试。其应用范围广泛，适用于复杂和高速器件的精密电气测量，以确保产品的质量、可靠性和研发效率。通过使用这种测试设备，研发人员可以缩短研发时间和降低器件制造工艺的成本。
该探针台的承载台采用 φ60 不锈钢材质，可加热至Zui高温度400℃，满足各种不同测试需求。真空腔体设计有进气口和抽真空接口，确保在真空环境下进行精密电气测量。探针臂可以实现 X/Y/Z三轴移动，且三个方向均可在真空环境下精密移位调节，其中 X 方向调节范围为：0－30mm；Y 方向调节范围为：0－20mm；Z方向调节范围为：0－20mm。这种灵活的调节方式使得用户可以根据不同的测试需求进行自行调节，以实现zuijia的测试效果。
在进行测试时，用户需要将待检测的器件固定在加热台上，微调探针支架 X/Y/Z方向行程，通过显微镜观察，使探针对准检测点。之后，即可进行精密电气测量，确保产品在质量和可靠性方面达到zuijia状态。这种测试设备还可以有效地降低研发时间和器件制造工艺的成本，提高研发效率。
